MIL-PRF-38534

スクリーニングおよび品質適合性検査要件

MIL-PRF-38534は、すべての部品に適用されるスクリーニング要件、ならびにプロセス設計および生産ロットの受け入れを目的として、グループA、B、C、Dの1つ以上で構成される品質適合性検査を規定しています。

MIL-PRF-38534は、電源モジュールやDC-DCコンバータなどのマルチチップ モジュールおよびシステムに適用されます。

MIL-PRF-38534のスクリーニングおよび品質適合性検査に関する詳細については、DoD (国防総省) の文書を参照するか、IR HiRelにお問い合わせください。

MIL-PRF-38534スクリーニング要件

HiRel Products Groupは、QIRLおよびOM803プログラムとして知られる標準的で費用対効果の高いスクリーニング プログラムも確立しています。標準の「既製品」 (off-the-shelf) であるSpace、JANTXV、またはJANTXレベルの製品は、QIRLとして指定できます。これらの製品は、Space、JANTXV、またはJANTXレベル向けのMIL-PRF-19500における、すべてのスクリーニングおよび品質適合性検査 (QCI) 要件に完全に準拠しています。これらはデータシートに記載された同一の電気的および機械的仕様を満たしており、JANS認定ラインで製造および試験されています。OM803スクリーニング プログラムは、MIL-STD-750およびMIL-STD-883で規定された方法と条件を用いながら、お客様に低コストのスクリーニングを提供するために開発されました。OM803スクリーニング プログラムは、すべてのOmnirel標準製品に対して実施されます。

注1: レベル2デバイスのバーンイン時間は最短48時間、レベル3デバイスのバーンイン時間は最短160時間です。
注2: PDAは、バーンインおよびバーンイン後の電気試験にのみ適用されます。
注3: 「P」レベル デバイスを注文する場合、デバイスに文字「P」はマーキングされません。

MIL-PRF-38534品質適合性検査
MIL-PRF-38534グループA電気試験
MIL-PRF-38534グループB試験
MIL-PRF-38534グループC試験
MIL-PRF-38534グループDパッケージ関連試験
IR HiRelロゴ

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