耐放射線性MOSFET

NチャネルおよびPチャネル耐放射線性MOSFETはESAおよびDLA規格に認定されています

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概要

DLAおよびESA認定の耐放射線パワーMOSFET

インフィニオンは高信頼性電源ソリューションのリーダーであり、子会社のInternational Rectifier HiRel Products社 (IR HiRel) は、1987年に宇宙用耐放射線パワーMOSFETを初めて提供したメーカーです。過去30年間、IR HiRelは、MIL-PRF-19500 JANSレベルまでの米国DLA QPL製品を使用して、シリコン設計、パッケージング技術、および品質を継続的に革新してきました。

インフィニオンは、MIL-PRF-19500 およびESCC-5000に準拠した幅広い密封パッケージで、NチャネルおよびPチャネルの耐放射線MOSFETを幅広く提供しており、QPLとして入手可能です。一部の耐放射線MOSFETは、ベアダイとしても利用できます。

IR HiRelブランドの耐放射線型FETのDLA品質適合性試験

HiRel製品は、商用製品とは異なり、仕様に対する製品性能を保証するために、さまざまなレベルで品質適合性検査 (QCI) テストを受ける必要があります。

米国では、国防補給庁 (DLA) が管理機関であり、半導体デバイスとハイブリッドモジュールで実行される品質適合性テストシーケンスを管理する仕様を発行しています。

MIL-PRF-19500/MIL-STD-750は、ダイオードやパワーMOSFET などのディスクリート半導体の制御仕様です。MIL-PRF-19500は、ディスクリート半導体をJAN、JANTX、JANTXV、またはJANSレベルのいずれかに製造するように指示します (注: MOSFETではJANレベルは許可されていません)。

インフィニオンのIR HiRelブランドの耐放射線性MOSFETおよびダイオードは、次のQCIレベルで提供されています。

  • MIL-PRF-19500に準拠したDLA認定認定製品リスト (QPL) Sレベル。DLAの部品番号は、JANブランドのプレフィックスで始まります。
  • DLA承認の生産ラインで製造およびテストされた MIL-PRF-19500と同等のSレベルのIR HiRelの認定IRリスト(QIRL)。QIRL 部品番号には SCSの接尾部が付いています。
  • ソース管理図面 (SCD)
  • QCIのない市販品 (COTS)
インフィニオンブランドの耐放射線FETのESA品質適合性試験

HiRel製品は、標準的な商用製品とは異なり、軍事および宇宙アプリケーションのしばしば過酷な環境で仕様どおりに機能できることを確認するために、さまざまなレベルの品質適合性テストを行う必要があります。ヨーロッパでは、欧州宇宙機関 (ESA) が管理機関であり、ハーメチックシールおよびダイのディスクリート半導体コンポーネント、つまりESCC-5000に対して実行される品質適合性テストシーケンスを管理する仕様を発行しています。

インフィニオンのHiRelハーメチック製品は、(1)ESCC一般仕様No.5000のチャートF3に従って、飛行部品と同じフィット感、形状、機能を備え、放射線硬度またはスクリーニングなしで指定された(P)商用ハーメチック、または(2)飛行用に宇宙認定されたESCC-5000として入手可能です。このような部分は(ES)と表記されます。インフィニオンブランドの耐放射線MOSFETは、認定されたベアダイとしても利用できます。

インフィニオンの耐放射線MOSFETの耐放射線性保証

インフィニオンの耐放射線MOSFETは、ESCC-5000、MIL-PRF-19500、および関連するスラッシュシートに概説されている要件に基づく保証プログラムにより、耐放射線性を検証するための試験が行われています。当社のIR HiRelブランド製品は、すべての製造ロットに必要な最大2倍のサンプリングサイズで、標準要件を上回っています。照射前と照射後の性能は、同じ駆動回路と試験条件を使用して試験および仕様化され、直接比較されます。

耐放射線設計技術により、耐放射線パワーMOSFETのシングルイベントゲート破裂(SEGR)およびシングルイベントバーンアウト(SEB)の可能性が実質的に排除されます。また、広範な単一イベント効果テストによって堅牢な性能が検証されます。

DLA MIL-STD分類とスクリーニングレベルの用語集

クラスH: クラスHは、MIL-PRF-38534 (ハイブリッド マイクロ回路の一般仕様) で規定されている標準的な軍事品質レベルです。宇宙アプリケーションでの使用を目的としています

レベルB: クラス レベルBは、MIL-STD-883 に規定されている高信頼性軍事アプリケーションのスクリーニング要件を定義し、クラス H 製品での使用を目的としています

レベルS: クラス レベルSは、MIL-STD-883 に規定されている高信頼性宇宙アプリケーションのスクリーニング要件を定義し、クラス K 製品での使用を目的としています

JAN: JAN (Joint Army Navy) は、DLA認定部品リスト上のデバイスを指定するためにDLAによって割り当てられた接頭辞

JANTX: DLA認定デバイスに対してMIL-PRF-19500で指定されている軍事スクリーニングレベル

JANTXV: DLA認定デバイスに対してMIL-PRF-19500で指定されている目視検査スクリーニングレベルを備えた軍事用

JANS: DLA認定デバイスに対するMIL-PRF-19500で指定されている宇宙レベルのスクリーニング

高信頼性パッケージ情報

パッケージ外形図、重量など、耐放射線性およびHiRel MOSFETポートフォリオのパッケージについて詳しくご覧ください。

HiRel製品パッケージ情報の詳細はこちら

DLAおよびESA認定の耐放射線パワーMOSFET

インフィニオンは高信頼性電源ソリューションのリーダーであり、子会社のInternational Rectifier HiRel Products社 (IR HiRel) は、1987年に宇宙用耐放射線パワーMOSFETを初めて提供したメーカーです。過去30年間、IR HiRelは、MIL-PRF-19500 JANSレベルまでの米国DLA QPL製品を使用して、シリコン設計、パッケージング技術、および品質を継続的に革新してきました。

インフィニオンは、MIL-PRF-19500 およびESCC-5000に準拠した幅広い密封パッケージで、NチャネルおよびPチャネルの耐放射線MOSFETを幅広く提供しており、QPLとして入手可能です。一部の耐放射線MOSFETは、ベアダイとしても利用できます。

IR HiRelブランドの耐放射線型FETのDLA品質適合性試験

HiRel製品は、商用製品とは異なり、仕様に対する製品性能を保証するために、さまざまなレベルで品質適合性検査 (QCI) テストを受ける必要があります。

米国では、国防補給庁 (DLA) が管理機関であり、半導体デバイスとハイブリッドモジュールで実行される品質適合性テストシーケンスを管理する仕様を発行しています。

MIL-PRF-19500/MIL-STD-750は、ダイオードやパワーMOSFET などのディスクリート半導体の制御仕様です。MIL-PRF-19500は、ディスクリート半導体をJAN、JANTX、JANTXV、またはJANSレベルのいずれかに製造するように指示します (注: MOSFETではJANレベルは許可されていません)。

インフィニオンのIR HiRelブランドの耐放射線性MOSFETおよびダイオードは、次のQCIレベルで提供されています。

  • MIL-PRF-19500に準拠したDLA認定認定製品リスト (QPL) Sレベル。DLAの部品番号は、JANブランドのプレフィックスで始まります。
  • DLA承認の生産ラインで製造およびテストされた MIL-PRF-19500と同等のSレベルのIR HiRelの認定IRリスト(QIRL)。QIRL 部品番号には SCSの接尾部が付いています。
  • ソース管理図面 (SCD)
  • QCIのない市販品 (COTS)

インフィニオンブランドの耐放射線FETのESA品質適合性試験

HiRel製品は、標準的な商用製品とは異なり、軍事および宇宙アプリケーションのしばしば過酷な環境で仕様どおりに機能できることを確認するために、さまざまなレベルの品質適合性テストを行う必要があります。ヨーロッパでは、欧州宇宙機関 (ESA) が管理機関であり、ハーメチックシールおよびダイのディスクリート半導体コンポーネント、つまりESCC-5000に対して実行される品質適合性テストシーケンスを管理する仕様を発行しています。

インフィニオンのHiRelハーメチック製品は、(1)ESCC一般仕様No.5000のチャートF3に従って、飛行部品と同じフィット感、形状、機能を備え、放射線硬度またはスクリーニングなしで指定された(P)商用ハーメチック、または(2)飛行用に宇宙認定されたESCC-5000として入手可能です。このような部分は(ES)と表記されます。インフィニオンブランドの耐放射線MOSFETは、認定されたベアダイとしても利用できます。

インフィニオンの耐放射線MOSFETの耐放射線性保証

インフィニオンの耐放射線MOSFETは、ESCC-5000、MIL-PRF-19500、および関連するスラッシュシートに概説されている要件に基づく保証プログラムにより、耐放射線性を検証するための試験が行われています。当社のIR HiRelブランド製品は、すべての製造ロットに必要な最大2倍のサンプリングサイズで、標準要件を上回っています。照射前と照射後の性能は、同じ駆動回路と試験条件を使用して試験および仕様化され、直接比較されます。

耐放射線設計技術により、耐放射線パワーMOSFETのシングルイベントゲート破裂(SEGR)およびシングルイベントバーンアウト(SEB)の可能性が実質的に排除されます。また、広範な単一イベント効果テストによって堅牢な性能が検証されます。

DLA MIL-STD分類とスクリーニングレベルの用語集

クラスH: クラスHは、MIL-PRF-38534 (ハイブリッド マイクロ回路の一般仕様) で規定されている標準的な軍事品質レベルです。宇宙アプリケーションでの使用を目的としています

レベルB: クラス レベルBは、MIL-STD-883 に規定されている高信頼性軍事アプリケーションのスクリーニング要件を定義し、クラス H 製品での使用を目的としています

レベルS: クラス レベルSは、MIL-STD-883 に規定されている高信頼性宇宙アプリケーションのスクリーニング要件を定義し、クラス K 製品での使用を目的としています

JAN: JAN (Joint Army Navy) は、DLA認定部品リスト上のデバイスを指定するためにDLAによって割り当てられた接頭辞

JANTX: DLA認定デバイスに対してMIL-PRF-19500で指定されている軍事スクリーニングレベル

JANTXV: DLA認定デバイスに対してMIL-PRF-19500で指定されている目視検査スクリーニングレベルを備えた軍事用

JANS: DLA認定デバイスに対するMIL-PRF-19500で指定されている宇宙レベルのスクリーニング

高信頼性パッケージ情報

パッケージ外形図、重量など、耐放射線性およびHiRel MOSFETポートフォリオのパッケージについて詳しくご覧ください。

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ドキュメント

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