放射線テストは、特に高放射線環境で使用されるデバイスの信頼性と寿命を確保するために重要なプロセスです。インフィニオンは、SEE (Single Event Effect) およびTID (Total Ionizing Dose) テストを通じて、耐放射線性と高信頼性メモリを検証し、システムの誤動作を排除し寿命を担保します。

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