MIL-PRF-38535スクリーニングおよび品質適合性検査要件

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MIL-PRF-38535は、すべての部品に適用されるスクリーニング要件に加え、プロセス設計および生産ロットの設計の受入れを目的として、グループA、B、C、D、Eの1つ以上から構成される品質適合性検査を規定しています。

MIL-PRF-38535は、集積回路 (IC) などのマイクロ回路に適用されます。

MIL-PRF-38535のスクリーニングおよび品質適合性検査の詳細については、DoD (国防総省) の文書を参照するか、工場にお問い合わせください。

認証: 1) 耐放射線性を備えたクラスQ/BおよびV/Sの気密パッケージに対する認定製造業者リスト (QML) 認証、2) MIL-STD-883試験方法に対する試験所適格性。

その他の非QML IC: IR HiRelは、SレベルおよびBレベル相当のスクリーニングにより、ICデバイスをIR HiRelのQualified IR List (QIRL) に登録するためのスクリーニングを実施します。QIRLの品番にはSCSおよびSCBの設備部が付きます。

MIL-PRF-38535 QCIグループ定常状態寿命試験 (クラスレベルBおよびS)

注1: ステージ1の寿命試験 (125℃で1,000時間) は、ウェーハロット受入の一環として各ウェーハロットで実施されます。各ウェーハからダイ5個 (各ウェーハロットから各ウェーハあたり最低45個) をサンプルとして抽出し、MIL-PRF-38534クラスKの要素評価要件と同様に、1,000時間の寿命試験に供します。定常状態寿命試験を実施し、QCIのカバレッジに適用します。対象は、グループC (クラスレベルBデバイス) およびQCIグループB5 (クラスレベルSデバイス) です。

スクリーニング:

MIL-PRF-38535試験およびスクリーニング要件

注1: 100%の非破壊ボンドプルの代わりに、代替SPC試験方法および工程管理を使用します。破壊ボンドプル試験は、SPCで設定した管理限界および検査に基づいて実施します。ワイヤーボンドの経年信頼性を確認するため、デバイス1個を300 ℃で1時間プリコンディショニングします。

注2: COTS: ANSI/ASQC Z1.4の属性表 (一般検査レベルII、ダブルサンプル、AQL 0.65%) を使用します。サンプルが不合格の場合は、キャップ装着前の全数検査を実施します。

注3: 10サイクル (-65 ℃～150 ℃) の代わりに、代替の温度サイクル試験方法を使用します。温度サイクルは20サイクル (-55 ℃～150 ℃) で実施します。

注4: PIND試験は、温度サイクル試験後から、バーンイン後 (中間) の電気パラメーター試験前までの間であれば、任意の順序で実施して構いません。

注5 - シリアル化はクラスレベルSデバイスにのみ適用されます。

注6 - ロットの無作為抽出検査を実施します。ロットサイズが500個未満の場合は22 (0) 個のサンプルを検査し、ロットサイズが500個以上の場合は45 (0) 個のサンプルを検査します。不良が1個見つかった場合は二重サンプル検査 (追加で22個または45個) を適用し、不良が2個以上の場合はロット全体を検査します。

品質適合性検査:

MIL-PRF-38535 QCIグループA試験 (クラスレベルBおよびS)

ATE TM参照: 3003 -遅延測定、3004 -遷移時間測定、3005 -電源電流、3006 -高レベル出力電圧、3009 -低レベル入力電流、3010 -高レベル入力電流、3021 -高インピーダンス (オフ状態) 時の高レベル出力リーク電流。

MIL-PRF-38535 QCIグループB試験 (クラスレベルBのみ)

注1: 耐溶剤性試験が必要なのは、マーキング媒体としてインクを使用するデバイスのみです。レーザーマーキングされたデバイスの試験は、QCIグループDで実施されます。

MIL-PRF-38535 QCIグループB試験 (クラスレベルSのみ)

注1 - 同一検査ロットからのサンプルに対してグループD検査を実施する場合、認定または品質適合性検査では不要です。

注2 - マーキング媒体としてインクを使用するデバイスにのみ、耐溶剤性試験が必要です。レーザーマーキングされたデバイスの試験は、QCIグループDで実施されます。

注3 – クラスS検査ロットの場合、ステージ2の寿命試験は、QCIグループB5にてパッケージ製品レベルで実施されます。サンプルは125℃で340時間のバーンインに供されます。小ロットのサンプル検査は12個、大ロットは22個とします。小ロットは1,000個を超えてはなりません。グループB5の1,000時間寿命試験は、ウェーハロット受入 (ステージ1) でカバーされ、かつ以下のすべての条件を満たす場合、生産ロットで実施する必要はありません。

(a) 後続の生産ロットでは、初回生産ロットと同じウェーハロットのダイを使用します。

(b) 初回生産ロットから残ったウェーハまたはダイは、乾燥窒素中または同等の管理された保管環境で保管し、

蓋付きの容器に入れます。