Infineon Technologies - Semiconductor and System Solutions
  • 产品分类
  • 应用领域
  • 设计支持
  • 社区
  • 关于我们
  • 求职
  • 工程师月报
  • 联系我们
  • 全球销售网络
  • 简体中文
    • English
    • Deutsch
    • 日本語
  • myInfineon
    • 注册 myInfineon 账号
  • 购物车
  • 投资者
  • Infineon at a Glance
  • News & Events
  • Reports & Presentations
  • Infineon Share
  • Fixed Income
  • Corporate Governance
  • Shareholder Service
  • Contact
  • 公司信息
  • 事业部
  • 董事会
  • 监事会
  • 分公司
  • 采购
  • 强大的组合
  • 质量
  • 赛普拉斯收购
  • Infineon Awards
  • 企业社会责任
  • 环境
  • 卫生与安全
  • 商业道德规范
  • 企业公民活动
  • 企业社会责任供应链
  • 人权
  • 企业社会责任报告
  • 概览
  • 一般信息
  • 新闻稿
  • 市场新闻
  • 新闻资料
  • 媒体资料库
  • 市场活动
  • 媒体联络
  • 展览及会议
  • 探索
  • 智能汽车
  • 物联网
  • 能源效率
  • 所有文章
视频
  • 求职
  • 英飞凌职位搜索
  • 为什么选择我们？
  • 我们所寻找的人才
  • 英飞凌在中国
Apply now
  • Home
  • 求职
  • 英飞凌职位搜索
  • Master Thesis: Electrical characterization of test structures of next generation SiC MOSFETs
Apply now
Print E-Mail Share Bookmark

Your bookmarked jobs (0)

Add/remove jobs to your bookmark list to keep them in mind.

No jobs in your bookmark list yet.

    Other Jobs

    Job search

    Industriepraktikum: Roadmapping Support

    Villach (Austria)

    Job description

    Master Thesis: Implementation of a wafer-level soft switching setup for GaN power transistors

    Villach (Austria)

    Job description

    Internship: Wafer Test Probing - Contacting Engineer

    Villach (Austria)

    Job description

    Senior Engineer Device Characterization and Modeling (f/m/div)*

    Munich (Germany)

    Job description

    Werkstudent: Package Entwicklung (w/m/div)*

    Regensburg (Germany)

    Job description

    Staff Technician Technology Development Characterization (w/m/div)*

    Villach (Austria)

    Job description

    Werkstudent: Technologieentwicklung (w/m/div)*

    Regensburg (Germany)

    Job description

    Project Executive Development Excellence (Contract)

    Melaka (Malaysia)

    Job description

    No matching position for you?

    Apply unsolicitedly
    Home > 求职 > 英飞凌职位搜索 > Master Thesis: Electrical characterization of test structures of next generation SiC MOSFETs
    Follow us
    • 英飞凌中国
    • 英飞凌工业半导体
    • 汽车电子生态圈

    © 1999 - 2022 Infineon Technologies AG

    • Usage of this website is subject to our Usage Terms
    • Imprint
    • Contact
    • Privacy Policy
    • Glossary

    苏ICP备15016286号-1 | 苏公网安备 32021402001016号 | 营业执照

    • Switch to Mobile Version
    • Switch to Desktop Version